DIN EN 60749-23:2011-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

NORMA vydaná dňa 1.7.2011

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (72.80 EUR)

Nemecky -

Tlačené (87.90 EUR)

Nemecky -

CD-ROM (74.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-23:2011-07
Dátum vydania normy: 1.7.2011
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 60749-23:2011-07 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.