Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose).
NORMA vydaná dňa 1.9.2003
Designation standards: DIN EN 60749-18:2003-09
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.9.2003
The number of pages: 15
Approximate weight : 45 g (0.10 lbs)
Country: German technical standard
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis).