DIN EN 62418:2010-12

Semiconductor devices - Metallization stress void test.

NORMA vydaná dňa 1.12.2010

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 62418:2010-12
Dátum vydania normy: 1.12.2010
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN