Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).
NORMA vydaná dňa 1.12.2010
Označenie normy: DIN EN 62417:2010-12
Dátum vydania normy: 1.12.2010
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).