Semiconductor devices - Constant current electromigration test.
NORMA vydaná dňa 1.12.2010
Označenie normy: DIN EN 62415:2010-12
Dátum vydania normy: 1.12.2010
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration.