DIN EN 62374:2008-02

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.

NORMA vydaná dňa 1.2.2008

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (102.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 62374:2008-02
Dátum vydania normy: 1.2.2008
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 62374:2008-02 :

Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.