Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS.
NORMA vydaná dňa 1.3.2012
Označenie normy: DIN EN 62047-9:2012-03
Dátum vydania normy: 1.3.2012
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 9: Prüfverfahren zur Festigkeit von Full-Wafer-Bondverbindungen in der Mikrosystemtechnik (MEMS).