DIN EN 62047-18:2014-04

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials.

NORMA vydaná dňa 1.4.2014

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (88.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 62047-18:2014-04
Dátum vydania normy: 1.4.2014
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 62047-18:2014-04 :

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe.