DIN EN 62047-14:2012-10

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials.

NORMA vydaná dňa 1.10.2012

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (98.30 EUR)

Nemecky -

Tlačené (125.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 62047-14:2012-10
Dátum vydania normy: 1.10.2012
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 62047-14:2012-10 :

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 14: Verfahren zur Ermittlung der Grenzformänderung metallischer Dünnschichtwerkstoffe.