DIN EN 60749-7:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.

NORMA vydaná dňa 1.4.2003

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (56.20 EUR)

Nemecky -

Tlačené (71.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-7:2003-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.4.2003
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 60749-7:2003-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 7: Messung des inneren Feuchtegehaltes und Analyse von anderen Restgasen.