Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
NORMA vydaná dňa 1.1.2018
Označenie normy: DIN EN 60749-5:2018-01
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.2018
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.