DIN EN 60749-4:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).

NORMA vydaná dňa 1.4.2003

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (54.50 EUR)

Nemecky -

Tlačené (67.70 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-4:2003-04
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.4.2003
The number of pages: 9
Approximate weight : 27 g (0.06 lbs)
Country: German technical standard
Kategória: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-4:2003-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST).