Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.
NORMA vydaná dňa 1.8.2008
Označenie normy: DIN EN 60749-37:2008-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.8.2008
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes.