DIN EN 60749-35:2007-03

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.

NORMA vydaná dňa 1.3.2007

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (95.40 EUR)

Nemecky -

Tlačené (118.70 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-35:2007-03
Publication date standards: 1.3.2007
The number of pages: 21
Approximate weight : 63 g (0.14 lbs)
Country: German technical standard
Kategória: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-35:2007-03 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.