DIN EN 60749-29:2004-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORMA vydaná dňa 1.7.2004

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-29:2004-07
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.7.2004
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN