NORMSERVIS s.r.o.

DIN EN 60749-29:2012-01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORMA vydaná dňa 1.1.2012

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (108.10 EUR)
Nemecky -
Tlačené (134.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-29:2012-01
Dátum vydania normy: 1.1.2012
Počet strán: 27
Približná hmotnosť: 81 g (0.18 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 60749-29:2012-01 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.