VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
NORMA vydaná dňa 1.2.2018
Označenie normy: DIN EN 60749-28:2018-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.2.2018
Počet strán: 50
Približná hmotnosť: 150 g (0.33 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.