DIN EN 60749-23:2004-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

NORMA vydaná dňa 1.10.2004

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (63.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-23:2004-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.10.2004
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 60749-23:2004-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.