Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat.
NORMA vydaná dňa 1.12.2003
Označenie normy: DIN EN 60749-20:2003-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.12.2003
Počet strán: 25
Približná hmotnosť: 75 g (0.17 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 20: Beständigkeit kunststoffverkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente (SMD) gegenüber der kombinierten Beanspruchung von Feuchte und Lötwärme.