
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
NORMA vydaná dňa 1.2.2000
Označenie normy: DIN EN 60749:2000-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.2.2000
Počet strán: 30
Približná hmotnosť: 90 g (0.20 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren.