
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 1: Silicium monocrystals, gravimetric method.
NORMA vydaná dňa 1.8.2023
Designation standards: DIN 50453-1:2023-08
Publication date standards: 1.8.2023
The number of pages: 9
Approximate weight : 27 g (0.06 lbs)
Country: German technical standard
Kategória: Technické normy DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen - Teil 1: Silicium-Einkristalle, Gravimetrisches Verfahren.