
Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method.
NORMA vydaná dňa 1.10.1990
Označenie normy: DIN 50453-1:1990-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.10.1990
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen; Silicium-Einkristalle; Gravimetrisches Verfahren.