
Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cell.
NORMA vydaná dňa 1.8.1987
Označenie normy: DIN 50450-1:1987-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.8.1987
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Wasserverunreinigung in Wasserstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Argon und Helium mittels einer Diphosphorpentoxidzelle.