ČSN EN 62132-5 (358798)

Annotation of standard text ČSN EN 62132-5 (358798):

Tato část IEC 62132-5 platí pro integrované obvody IC, které mohou provádět samostatné funkce, pokud jsou použity na rozměrově malých zkušebních deskách. RF odolnost těchto IC může být měřena za předem stanovených podmínek. Metoda dovoluje navíc měření na aplikačních deskách. Toto ukazuje uživateli očekávanou odolnost po implementaci integrovaného obvodu (obvodů). Metoda umožňuje klasifikovat IC pro vyhrazené funkce, kde platí EMC omezení. Toto lze použít na IC používané v bezšňůrových telefonních přístrojích, dalších komunikačních zařízeních a aplikacích, kde pro získání optimální funkce jsou důležité vlastnosti EMC, např. pro automobilový průmysl, zařízení pro měření a řízení procesů a všechny další výrobky, které řídí kritické funkce. Tato část IEC 62132-5 popisuje metodu měření pro hodnocení RF odolnosti integrovaných obvodů (IC) proti elektromagnetickým rušením šířeným vedením. Zkoušené IC jsou namontovány na normalizované zkušební desce nebo na příslušné desce konečné aplikace, IEC 62132 se skládá z následujících částí, se společným názvem Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti, 150 kHz až 1 GHz: Část 1: Všeobecné podmínky a definice Část 2: Měření odolnosti proti vyzařovanému rušení - Metoda buňky TEM a širokopásmové buňky TEM Část 3: Metoda injekce velkého proudu (BCI), 10kHz až 1 GHz Část 4: Metoda přímé injekce RF výkonu Část 5: Metoda pracovní Faradayovy klec