ČSN EN 62373 (358767)

Zkouška stability tranzistorů MOSFET při namáhání napětím a teplotou. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).

NORMA vydaná dňa 1.3.2007

Anglicky (v českom jazyku len titulná strana) -
Tlačené (14.00 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 62373
Classification mark: 358767
Catalog number: 78056
Publication date standards: 1.3.2007
The number of pages: 32
Approximate weight : 96 g (0.21 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategória: Technické normy ČSN

Annotation of standard text ČSN EN 62373 (358767):

Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou.
Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí.
Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.