Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 38: Metoda zkoušení četnosti občasných chyb polovodičových součástek s pamětí. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
NORMA vydaná dňa 1.10.2008
Označenie normy: ČSN EN 60749-38
Rozlišovací znak: 358799
Katalógové číslo: 81989
Dátum vydania normy: 1.10.2008
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Česká technická norma
Kategória: Technické normy ČSN
Tato část normy popisuje postup měření výskytu občasných chyb polovodičových součástek s pamětí, které jsou vystaveny částicím s vysokou energií, jako je alfa záření. Jsou popsány dvě zkoušky; zrychlená zkouška používá zdroj záření alfa a (neurychlovaná) zkouška systému v reálném čase, kde libovolné chyby jsou generovány za podmínek přirozeného výskytu záření, což může být alfa záření a jiná záření, například neutronová. Pro úplné popsání výskytu občasných chyb integrovaných obvodů s pamětí musí být součástka zkoušena pro široké spektrum částic s vysokých energií a tepelných neutronů a musí se použít další zkušební metody. Tato zkušební metoda může být použita pro libovolný typ integrovaného obvodu s pamětí.