Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
NORMA vydaná dňa 1.12.2011
Označenie normy: ČSN EN 60749-29-ed.2
Rozlišovací znak: 358799
Katalógové číslo: 89811
Dátum vydania normy: 1.12.2011
Počet strán: 36
Približná hmotnosť: 108 g (0.24 libier)
Krajina: Česká technická norma
Kategória: Technické normy ČSN
Tato norma zahrnuje I-zkoušku a přepěťovou zkoušku zavření pro integrované obvody.
Tato zkouška je považována za destruktivní.
Účelem této zkoušky je stanovit metodu, která určí zavření (Latch-up) integrovaných obvodů (IO) a definuje kriteria poruch zavření. Charakteristiky zavření jsou používány na stanovení spolehlivosti výrobku "zjištění bezporuchovosti" (NTF) a minimalizaci poruchy způsobené "elektrickým přepětím" (EOS) během zkoušky zavření.
Tuto zkušební metodu je možno aplikovat pro CMOS součástky. Použitelnost pro ostatní technologie musí být stanovena.
Klasifikace zkoušek zavření jako funkce teploty je definována v 3.1 a kriteria úrovně poruch jsou uvedena v 3.2