BS ISO 25498:2010

Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.

NORMA vydaná dňa 30.6.2010

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (308.20 EUR)

Anglicky -

Tlačené (308.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 25498:2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.6.2010
Počet strán: 40
Približná hmotnosť: 120 g (0.26 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS