BS ISO 22415:2019

Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials.

NORMA vydaná dňa 14.5.2019

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (308.00 EUR)

Anglicky -

Tlačené (308.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 22415:2019
Dátum vydania normy: 14.5.2019
Počet strán: 38
Približná hmotnosť: 114 g (0.25 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS ISO 22415:2019 :

ISBN: 978 0 580 98908 7 Status: Confirmed