BS ISO 17470:2014

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.

NORMA vydaná dňa 31.1.2014

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (176.90 EUR)

Anglicky -

Tlačené (176.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 17470:2014
Dátum vydania normy: 31.1.2014
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS ISO 17470:2014 :

ISBN: 978 0 580 84121 7 Status: Revision Underway