BS ISO 17109:2015

Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy. Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films.

NORMA vydaná dňa 31.8.2015

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (265.40 EUR)

Anglicky -

Tlačené (265.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 17109:2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 31.8.2015
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS