
Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors.
NORMA vydaná dňa 19.12.2002
Označenie normy: BS ISO 15632:2002
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 19.12.2002
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS