BS ISO 14706:2014

Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy.

NORMA vydaná dňa 31.7.2014

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (316.20 EUR)

Anglicky -

Tlačené (316.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 14706:2014
Dátum vydania normy: 31.7.2014
Počet strán: 36
Približná hmotnosť: 108 g (0.24 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS ISO 14706:2014 :

ISBN: 978 0 580 82725 9 Status: Under Review