BS ISO 14701:2018

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.

NORMA vydaná dňa 5.11.2018

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (269.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 14701:2018
Dátum vydania normy: 5.11.2018
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS ISO 14701:2018 :

ISBN: 978 0 580 51949 9 Status: Under Review