BS ISO 14701:2011

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.

NORMA vydaná dňa 31.8.2011

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (269.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 14701:2011
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 31.8.2011
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS