
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials.
NORMA vydaná dňa 31.8.2010
Označenie normy: BS ISO 14237:2010
Dátum vydania normy: 31.8.2010
Počet strán: 30
Približná hmotnosť: 90 g (0.20 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 57402 3 Status: Confirmed