BS ISO 14237:2000

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials.

NORMA vydaná dňa 15.4.2000

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (269.70 EUR)

Anglicky -

Tlačené (269.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 14237:2000
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.4.2000
Počet strán: 32
Približná hmotnosť: 96 g (0.21 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS