BS ISO 12406:2010

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon.

NORMA vydaná dňa 30.11.2010

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (261.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 12406:2010
Dátum vydania normy: 30.11.2010
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS ISO 12406:2010 :

ISBN: 978 0 580 66874 6 Status: Confirmed