BS IEC 63068-4:2022

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence.

NORMA vydaná dňa 7.9.2022

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (269.50 EUR)

Anglicky -

Tlačené (269.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS IEC 63068-4:2022
Dátum vydania normy: 7.9.2022
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS IEC 63068-4:2022 :

ISBN: 978 0 539 18417 4 Status: Definitive