BS IEC 63068-3:2020

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using photoluminescence.

NORMA vydaná dňa 24.7.2020

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (269.50 EUR)

Anglicky -

Tlačené (269.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS IEC 63068-3:2020
Dátum vydania normy: 24.7.2020
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS IEC 63068-3:2020 :

ISBN: 978 0 539 02136 3 Status: Definitive