BS IEC 63068-2:2019

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using optical inspection.

NORMA vydaná dňa 8.2.2019

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (269.50 EUR)

Anglicky -

Tlačené (269.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS IEC 63068-2:2019
Dátum vydania normy: 8.2.2019
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS IEC 63068-2:2019 :

ISBN: 978 0 580 51374 9 Status: Definitive