BS IEC 63068-1:2019

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Classification of defects.

NORMA vydaná dňa 10.5.2019

Informácie o norme:

Označenie normy: BS IEC 63068-1:2019
Dátum vydania normy: 10.5.2019
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS