BS IEC 62373-1:2020

Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). Fast BTI test for MOSFET.

NORMA vydaná dňa 30.3.2023

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (270.00 EUR)

Anglicky -

Tlačené (270.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS IEC 62373-1:2020
Dátum vydania normy: 30.3.2023
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS IEC 62373-1:2020 :

ISBN: 978 0 580 51373 2 Status: Definitive