
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature.
NORMA vydaná dňa 15.3.2018
Označenie normy: BS IEC 62047-29:2017
Dátum vydania normy: 15.3.2018
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 94013 2 Status: Definitive