BS IEC 62047-27:2017

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT).

NORMA vydaná dňa 22.7.2020

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (183.40 EUR)

Anglicky -

Tlačené (183.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS IEC 62047-27:2017
Dátum vydania normy: 22.7.2020
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS IEC 62047-27:2017 :

ISBN: 978 0 580 89909 6 Status: Definitive