BS EN IEC 63287-4:2026

Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans. Early failure assessment.

NORMA vydaná dňa 27.10.2026

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (192.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN IEC 63287-4:2026
Dátum vydania normy: 27.10.2026
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS EN IEC 63287-4:2026 :

ISBN: 978 0 539 34785 2 Status: Definitive