BS EN IEC 60749-41:2020

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.

NORMA vydaná dňa 9.9.2020

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (267.70 EUR)

Anglicky -

Tlačené (267.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN IEC 60749-41:2020
Dátum vydania normy: 9.9.2020
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS EN IEC 60749-41:2020 :

ISBN: 978 0 580 96287 5 Status: Definitive