BS EN IEC 60749-37:2022-TC

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.

NORMA vydaná dňa 20.12.2022

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (376.30 EUR)

Anglicky -

Tlačené (376.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN IEC 60749-37:2022-TC
Dátum vydania normy: 20.12.2022
Počet strán: 60
Približná hmotnosť: 180 g (0.40 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS EN IEC 60749-37:2022-TC :

ISBN: 978 0 539 25325 2 Status: Definitive