BS EN IEC 60749-37:2022

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.

NORMA vydaná dňa 22.11.2022

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (267.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN IEC 60749-37:2022
Dátum vydania normy: 22.11.2022
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS EN IEC 60749-37:2022 :

ISBN: 978 0 539 15199 2 Status: Definitive