BS EN IEC 60749-28:2022-TC

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level.

NORMA vydaná dňa 22.12.2022

Informácie o norme:

Označenie normy: BS EN IEC 60749-28:2022-TC
Dátum vydania normy: 22.12.2022
Počet strán: 124
Približná hmotnosť: 403 g (0.89 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS